Chụp CT bằng tia X là một kỹ thuật kiểm tra không phá hủy mạnh mẽ nhưng một số linh kiện điện tử có thể nhạy cảm với tia X và các bức xạ ion hóa khác. Các thành phần điện tử thụ động như điện trở, tụ điện, cuộn cảm và bản thân PCB thực tế không bị ảnh hưởng khi tiếp xúc với bức xạ ion hóa, nhưng các bộ nhớ flash, IMU và gia tốc kế đều dễ bị ảnh hưởng bởi tổng liều ion hóa (TID), đây là thước đo lượng bức xạ ion hóa tích lũy mà chúng đã nhận được. TID có thể gây ra sự thay đổi ngưỡng điện tử, dòng điện rò rỉ, thay đổi thời gian và hỏng hóc chức năng. Tổng ngưỡng liều thay đổi tùy theo thiết bị, vì vậy tốt nhất nên xác định ngưỡng liều cho một thiết bị nhất định thông qua thử nghiệm trực tiếp. Khi quét thiết bị điện tử, điều quan trọng là phải hiểu TID để thực hiện quét vừa đạt được mức kiểm tra nhất định vừa giảm thiểu rủi ro ảnh hưởng đến hiệu suất của thiết bị. Liều lượng phụ thuộc vào nhiều yếu tố, bao gồm:Documentation Index
Fetch the complete documentation index at: https://support.lumafield.com/llms.txt
Use this file to discover all available pages before exploring further.
- Năng lượng nguồn máy quét
- Thời gian quét
- Số lần thiết bị sẽ được quét
- Khoảng cách giữa bộ phận và nguồn
- Lượng lọc được sử dụng
| Loại thiết bị bán dẫn | Tổng ngưỡng liều ion hóa (krads) |
| Tuyến tính | 2-50 |
| Tín hiệu hỗn hợp | 2-50 |
| Bộ nhớ flash | 5-15 |
| DRAM | 15-50 |
| Bộ vi xử lý | 15-70 |
Hướng dẫn quét thiết bị điện tử:
- Trong thực tế, hầu hết các lần quét thiết bị điện tử sẽ sử dụng một số mức lọc để giảm thiểu các thành phần giả phát sinh từ các tổ hợp đa vật liệu. Quá trình lọc làm giảm lượng ánh sáng tia X được sử dụng để quét, giảm liều lượng nhưng thông thường sẽ cần thời gian quét lâu hơn khi sử dụng tính năng lọc. Tham khảo các biểu đồ ở trên để hiểu tác động của mức độ lọc đối với quá trình quét của bạn.
- Trong khi việc tăng độ phóng đại làm tăng liều lượng, nó cũng tăng độ phân giải tốt của đối tượng và giảm nguy cơ phải quét lại nếu lần quét đầu tiên không giải quyết được các đối tượng mục tiêu.
- Khi bạn đã định vị được bộ phận, hãy đặt thời lượng quét bằng Quét tự động để tìm các thông số quét khác. Việc thiết lập thời gian quét kết hợp với biểu đồ trên sẽ giúp bạn kiểm soát được TID mà thiết bị nhận được.
Thiết bị của tôi có được an toàn không? Một ví dụ hoạt động
Như có thể thấy từ bảng trên, ngưỡng TID cho nhiều thiết bị khác nhau đáng kể. Mặc dù không phải lúc nào cũng có thể thực hiện được nhưng phương pháp có độ tin cậy cao nhất để đánh giá tác động của tia X lên thiết bị điện tử là tìm giới hạn TID bằng thực nghiệm. Xem ví dụ hoạt động này để tìm hiểu cách xác định ngưỡng TID bằng thực nghiệm. Thiết bị: Ổ đĩa flash Điều kiện quét:- Cấu hình máy quét: 190 kV
- Khoảng cách nguồn tới đối tượng: 200 mm
- Bộ lọc: Đồng 0,5 mm
- Thời lượng quét: 3 giờ
- Sử dụng biểu đồ hấp thụ liều ở trên để xác định liều ở điều kiện quét. Trong ví dụ này, quá trình quét sẽ được tiến hành trên Neptune 190 kV ở khoảng cách nguồn đến vật thể là 200 mm với bộ lọc Đồng 0,5 mm. Điều này tương ứng với suất liều hấp thụ xấp xỉ 2 krad/giờ. Quét trong 3 giờ sẽ cho kết quả là 3 giờ * 2 krad/giờ = 6 krad liều lượng.
- Quét thiết bị theo gia số 1 krad và kiểm tra chức năng của thiết bị giữa các liều. Trong ví dụ này, điều này có nghĩa là quét thiết bị theo từng khoảng thời gian 30 phút.
- Tiếp tục cho đến khi thiết bị không vượt qua được quá trình kiểm tra chức năng. TID mà tại đó thiết bị không vượt qua thử nghiệm là giới hạn liều rút ra từ thực nghiệm mà tại đó phải áp dụng biên độ an toàn. Biên độ này có thể được xác định bằng thực nghiệm bằng cách lặp lại quy trình trên để xây dựng số liệu thống kê về TID cho thiết bị.