> ## Documentation Index
> Fetch the complete documentation index at: https://support.lumafield.com/llms.txt
> Use this file to discover all available pages before exploring further.

# Neptune 自動掃描設定指南

> 使用自動掃描優化您的掃描

<h2 id="what-is-auto-scan">
  什麼是自動掃描？
</h2>

自動掃描是 Lumafield 的主要掃描方法。只需放入您的零件，設定時間，然後讓系統自動優化關鍵掃描設置，以確保最高的重建質量，簡化您的日常檢查工作流程。

<h3 id="auto-scan-vs-manual-scan">
  自動掃描與手動掃描
</h3>

Lumafield 建議對絕大多數應用程式使用自動掃描。大多數使用者會發現自動掃描始終能提供最佳結果，而手動掃描僅用於高度專業或非標準的偵測要求。

<Note>
  **注意：** 對於不屬於自動掃描範圍的非標準用例，請聯絡[support@lumafield.com](mailto:support@lumafield.com)獲取優化工作流程的指導。
</Note>

<h2 id="adjustable-settings">
  可調設定
</h2>

自動掃描簡化了配置，因此高品質成像不需要專門的 CT 專業知識。只需定位您的零件，指示材料成分，選擇掃描持續時間，然後讓自動調諧器決定其餘的掃描參數。

<h3 id="position-and-magnification">
  位置和放大倍率
</h3>

<Frame>
  <img src="https://mintcdn.com/lumafield/cRCJUA36deVx0c79/images/auto-scan-settings-1.png?fit=max&auto=format&n=cRCJUA36deVx0c79&q=85&s=9f99353e0e9e0b71c62c5948baf32004" alt="自動掃描設定 1" width="1058" height="522" data-path="images/auto-scan-settings-1.png" />
</Frame>

正確的對齊對於解析度至關重要，因為自動調諧器根據視場 (FOV) 中的內容選擇設定。使用介面控制可以：

* **旋轉：** 驗證 FOV 間隙以實現完整 360° 旋轉
* **放大（縮放）：** 將零件移近來源以提高分辨率
* **平移（上/下）：** 將感興趣區域置於框架內居中

確保運動平台和轉台的組件位於 FOV 之外，以獲得最佳效果。

<Note>
  **注意：** 不同的 Neptune 型號具有特定的放大倍率「最佳點」。有關詳細的分辨率基準，請參閱[**Neptune 定位指南**](https://support.lumafield.com/zh-Hant/neptune/neptune-positioning-guide)。本指南還將概述螺旋掃描和水平偏移掃描的高級採集模組。
</Note>

<h3 id="adjust-parameters">
  調整參數
</h3>

<Frame>
  <img src="https://mintcdn.com/lumafield/cRCJUA36deVx0c79/images/auto-scan-settings-2.png?fit=max&auto=format&n=cRCJUA36deVx0c79&q=85&s=f3c640f2437e43d8c9ec60e5d7edfd2f" alt="自動掃描設定 2" width="1058" height="445" data-path="images/auto-scan-settings-2.png" />
</Frame>

**零件組成：** 單一材料與多材料

* **單一材質：** 對於具有單一、均勻密度的零件選擇此選項。此設定也適用於材料密度幾乎相同的組件，例如由多種相似塑膠製成的組件
* **多材料：** 針對具有多種材料密度的組件進行了最佳化，此設定有助於軟體更好地解析高對比度介面，例如封裝在塑膠或複雜 PCBA 中的金屬組件

**掃描時間：** 自動掃描持續時間最多可設定為 12 小時。增加掃描時間可以延長總曝光量，從而降低噪聲，從而實現卓越的重建品質。

雖然較長的掃描通常會產生更清晰的數據，但其影響因零件的材料和複雜性而異。請注意，時間和品質之間的關係不是線性的，隨著時間的增加，您可能會遇到收益遞減的情況。

一般來說，X 射線預覽中出現的零件越暗（越不透明），其密度和 X 射線衰減就越高。較高衰減的零件需要較長的掃描時間才能產生高品質的重建。例如，雖然同質塑膠零件可能會在短短 30 分鐘內解析，但密集的金屬零件或複雜的組件通常需要更長的掃描（長達 12 小時）才能確保資料清晰度。

<h3 id="scan-sweep">
  Scan Sweep
</h3>

Scan Sweep 是一種流程最佳化工具。它會在分配的總掃描時間內執行一系列不同持續時間的連續掃描。執行 Scan Sweep 以比較不同掃描時間的品質。

* **一次掃描：** 標準單次擷取模式
* **三到五次掃描：** 最適合在最短的時間內撥號以獲得所需的影像品質。掃描中的所有掃描都將填入同一項目中，以便於跨掃描時間進行比較

<h2 id="advanced-parameter-override">
  高階參數覆蓋
</h2>

<Frame>
  <img src="https://mintcdn.com/lumafield/eHaDu2IrbJGBqPQv/neptune/auto-scan-settings-4.png?fit=max&auto=format&n=eHaDu2IrbJGBqPQv&q=85&s=e458b5d36e127e906c6ee71ddc03c478" alt="自動掃描設定 4" width="1058" height="317" data-path="neptune/auto-scan-settings-4.png" />
</Frame>

「進階參數覆蓋」複選框可讓您手動控制某些通常由自動掃描演算法管理的硬體設定。

<Note>
  **注意：** 這些設定會顯著影響掃描物理特性。我們建議只有在您對 CT 採集有透徹的了解或已諮詢 Lumafield 支援團隊時才使用這些覆蓋：[support@lumafield.com](mailto:support@lumafield.com)。
</Note>

<h3 id="filter-selection">
  過濾器選擇
</h3>

濾光片透過在較低能量的 X 射線到達物體之前去除它們來減輕光束硬化偽影。這確保了光束更加均勻，並且能夠更好地穿透緻密材料。

* **何時使用：** 對於多材料組件和緻密或金屬單一材料零件有幫助
* **權衡：** 濾光片越厚，需要更長的曝光時間才能維持足夠的訊號，導致掃描時間更長
* **可用選項：** 銅過濾器厚度為 0.5 毫米、1 毫米、1.5 毫米、2.5 毫米和 6 毫米

<h3 id="spot-size-neptune-mfx-only">
  光斑尺寸（僅限 Neptune MFX）
</h3>

光點尺寸決定了 X 射線束的原點，從而在幾何清晰度和功率（通量）之間建立了基本的權衡。自動掃描通常會優化光點尺寸，使其接近掃描的體素尺寸。

* **小光點尺寸 (5 µm)：** 提供最大解析度和清晰度；非常適合微特徵，但由於功率限制需要更長的掃描時間
* **大光斑尺寸 (40 µm)：** 允許更高的功率和更大的整體曝光。適用於微觀解析度不太重要的較大、較密集的零件。也可用於提高多材料零件中低密度塑膠的可見度
* **可用選項：** 5 µm、8 µm、20 µm 和 40 µm