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Documentation Index

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什么是自动扫描?

自动扫描 是 Lumafield 的主要扫描方法。只需放入您的部件、设置时间,系统将自动优化关键扫描设置,以确保最高的重建质量,简化您的日常检测工作流程。

自动扫描与手动扫描

Lumafield 建议在绝大多数应用中使用自动扫描。大多数用户会发现自动扫描始终能提供最佳结果,手动扫描仅用于高度专业化或非标准的检测需求。
注意: 对于超出自动扫描范围的非标准用例,请联系 support@lumafield.com 以获取优化工作流程的指导。

可调设置

自动扫描 简化了配置,因此不需要专业的 CT 知识即可获得高质量成像。只需定位您的部件、指示材料成分、选择扫描时长,然后让自动调谐器决定其余扫描参数。

位置和放大倍率

自动扫描设置 1
正确的对准对于分辨率至关重要,因为自动调谐器根据视野(FOV)中的内容选择设置。使用界面控件来:
  • 旋转: 验证 360° 完整旋转的 FOV 间隙
  • 放大(缩放): 将部件移近源以提高分辨率
  • 平移(上/下): 将感兴趣区域居中在画面内
确保运动台和转台的组件在 FOV 之外,以获得最佳效果。
注意: 不同的 Neptune 型号有特定的放大倍率”最佳点”。有关详细的分辨率基准,请参阅 Neptune 定位指南。本指南还将概述螺旋扫描和水平偏移扫描的高级采集模块。

调整参数

自动扫描设置 2
部件成分: 单一材料与多种材料
  • 单一材料: 适用于密度单一、均匀的部件。此设置也适用于材料密度几乎相同的组件,例如由多种类似塑料制成的部件
  • 多种材料: 针对具有广泛材料密度范围的组件进行了优化,此设置有助于软件更好地解析高对比度界面,例如塑料包裹的金属部件或复杂的 PCBA
扫描时间: 自动扫描的持续时间最长可配置为 12 小时。增加扫描时间可延长总曝光时间,从而减少噪声以获得更优质的重建质量。 虽然较长的扫描通常会产生更干净的数据,但其影响因部件的材料和复杂性而异。请注意,时间与质量之间的关系不是线性的,随着时间的增加,您可能会遇到收益递减的情况。 一般而言,部件在 X 射线预览中显示越暗(越不透明),其密度和 X 射线衰减就越高。高衰减部件需要更长的扫描时间才能产生高质量的重建。例如,均匀的塑料部件可能在短短 30 分钟内就能解析,而致密的金属部件或复杂的组件通常需要更长的扫描时间(最长 12 小时)以确保数据清晰度。

扫描扫掠

扫描扫掠是一种工艺优化工具。它在您分配的总扫描时间内,执行一系列持续时间不同的连续扫描。执行扫描扫掠可比较不同扫描时间下的质量。
  • 一次扫描: 标准单次采集模式
  • 三次或五次扫描: 最适合确定达到所需图像质量所需的最短时间。扫掠中的所有扫描将填充到同一项目中,便于比较各扫描时间的结果

高级参数覆盖

自动扫描设置 4
高级参数覆盖复选框允许您手动控制一些通常由自动扫描算法管理的硬件设置。
注意: 这些设置会显著影响扫描物理特性。我们建议仅在您对 CT 采集有深入了解或已咨询 Lumafield 支持团队 support@lumafield.com 的情况下使用这些覆盖设置。

滤波器选择

滤波器通过在低能 X 射线到达物体之前将其去除来减轻射束硬化伪影。这确保了更均匀的射束,能够更好地穿透致密材料。
  • 何时使用: 适用于多种材料组件以及致密或金属单一材料部件
  • 权衡: 较厚的滤波器需要更长的曝光时间以维持足够的信号,导致扫描时间更长
  • 可选选项: 铜滤波器厚度为 0.5 mm、1 mm、1.5 mm、2.5 mm 和 6 mm

焦点尺寸(仅限 Neptune MFX)

焦点尺寸决定了 X 射线束的起源点,在几何清晰度和功率(通量)之间形成了根本性的权衡。自动扫描通常会将焦点尺寸优化为接近扫描的体素大小。
  • 小焦点尺寸(5 µm): 提供最大分辨率和清晰度;适用于微特征,但由于功率限制需要更长的扫描时间
  • 大焦点尺寸(40 µm): 允许更高的功率和更大的总体曝光。适用于微分辨率要求不高的较大、较密部件。也可用于提高多材料部件中低密度塑料的可见性
  • 可选选项: 5 µm、8 µm、20 µm 和 40 µm