Neptune ポジショニングガイド

Documentation Index

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ポジショニングの基本と安全性

効果的な部品ポジショニングは、2 つの主要な目標のバランスです：

1. ハードウェアの安全性: 部品とスキャナーコンポーネント間の衝突を防止する
2. 解像度の最適化: 特定のオブジェクトや関心領域に対するスキャン品質と解像性を確保する

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手動確認

Neptune システムは、ハードウェアの衝突を自動的に防止する近接センサーを使用していません。そのため、安全な動作経路を確保する責任はオペレーターにあります。

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緊急時の手順

ポジショニング中に衝突の恐れや予期しない動きを確認した場合：

1. Emergency Stop（E-Stop）: 赤い Emergency Stop（E-Stop）ボタンを押して、すべてのガントリーとステージの動作を停止してください。部品の安全な移動経路を確認してから動作を再開してください
2. 再ホーミング: E-Stop の作動またはハードウェアの物理的衝突の後は、システムの再ホーミングが必要です。このプロセスはすべてのモーション軸を再キャリブレーションし、操作を再開する前にシステムの位置精度を回復します
3. サポートへの連絡: 衝突が発生した場合、またはスキャナーの異常な動作に遭遇した場合は、直ちに support@lumafield.com にメールしてください。現在の状態の写真／動画とイベントの説明を含めることで、Lumafield エンジニアリングチームが操作を再開する前にシステムの健全性を確認できます

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位置と倍率の調整

タッチスクリーンのスライダー、矢印キー、または手動数値入力を使用してスキャン位置を定義します。正確な位置合わせは、高精度データとハードウェアの安全性の両方を確保するための第一歩です。

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ポジショニングコントロール

回転: 部品と取付治具が X 線源、フィルターホイール、検出器から十分なクリアランスを保っていることを確認するために全回転を行います。

• バウンド確認: 自動クリアランスチェックを実行し、関心領域が視野（FOV）内に収まっていることを確認するには「Verify Bounds」を使用してください

ズームイン／ズームアウト: ズームの調整により、部品を X 線源に近づけたり遠ざけたりして、スキャンの倍率と結果の解像度を変更します。

• イエローゾーン: このハイライト領域は高倍率で線源に近いことを示します。このゾーンでの操作時は十分に注意してください
• フィルターホイールのクリアランス: フィルターホイールが部品や治具に接触せずに作動・回転できる十分な物理的スペースがあることを常に確認してください

上下移動: 部品を垂直方向に中心に配置して FOV の中央に合わせます。

• 最適な露光: FOV の中心は最も高い X 線フラックス（強度）を受けます。最高のスキャン品質を得るには、部品または関心領域を垂直方向に中心に配置してください
• アーティファクトの防止: ターンテーブルやモーションステージが FOV 内に見えないようにしてください。高密度の取付ハードウェアが含まれると不要なアーティファクトが発生する可能性があります

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モデル別の推奨倍率

ハードウェアの違いにより、以下のガイドラインに従って最適な解像度を得てください：

• Neptune Standard および Neptune MFX: 部品を安全な範囲内で線源にできるだけ近づけます。これらのモデルでは、最大近接距離が最高の解像度を実現します
• Neptune High Power: 理想的な倍率は約 2 倍、つまり部品を線源と検出器のほぼ中間に配置します。このモデルで倍率を上げすぎると、高出力時の大きなフォーカルスポットサイズにより「ぼやけ」が生じる可能性があります

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高度なスキャンモジュール

スキャナーの構成に応じて、専門的な取得モードを利用できる場合があります。これらのスキャナーモジュールは高度な再構成アルゴリズムを活用し、標準スキャンボリュームの物理的な制限を超えます：

• 水平オフセットスキャン（拡張スキャンボリュームモジュール）: このモードを使用すると、スキャン幅を実質的に 2 倍に拡張し、標準エンベロープのほぼ 2 倍の使用可能ボリュームに拡大します。回転軸をシフトし、オブジェクトが意図的に片側で視野（FOV）から外れることで、ソフトウェアは高度な数学的再構成を使用してオフセットデータを単一のオーバーサイズボリュームに「ステッチ」します。
• ヘリカルスキャン（ヘリカルスキャンモジュール）: このモードを使用すると、標準スキャンボリュームの制限を超えて垂直方向のスキャン高さを拡張できます。連続的な垂直ステージ移動と回転を同期させることで、部品全長にわたって均一な解像度を提供し、水平面でのコーンビームアーティファクトを大幅に最小化します。

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オーバーサイズ部品とフラットフィールド補正（FFC）

フラットフィールド補正（FFC） 画像は、遮蔽物のない X 線ビームの検出器によるリファレンスフレームです。これらの画像は、検出器の感度と X 線ビームの強度のベースラインを確立し、高品質でアーティファクトのない再構成を保証します。

• 初期化とキャッシュ: FFC 画像はスキャンプロセス中にキャプチャされ、3 日間キャッシュされます。同じ設定で新しいスキャンが実行された場合、FFC ステップはスキップされ、キャッシュされた画像が使用されます。キャッシュの有効期限後に新しい FFC 画像が取得されます
• 「クリアパス」の要件: 有効な FFC をキャプチャするには、X 線から検出器への経路が完全に遮蔽物のない状態である必要があります。スキャン設定によっては、システムのキャリブレーションのために部品を取り除くよう求められる場合があります。それ以外の場合、システムは部品を FFC 位置に移動させてこれらの画像を取得します
• 遮蔽のリスク: FFC 画像キャプチャ中にオブジェクト（または治具）の一部がビーム経路に残っていると、システムはそのオブジェクトを「恒久的な影」として扱います。これにより、最終スキャンデータ全体にアーティファクトが現れます

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水平オフセットスキャン用「Small Part」チェックボックス

水平オフセットスキャンを実行する場合、新しい FFC 画像のクリアパスを確保するため、毎回スキャン前に部品を手動で取り除くよう求められます。 部品が物理的に十分小さく、ステージを内部 FFC 位置に移動させることで検出器への遮蔽のないビューを確保できる場合は、「Small Part」チェックボックスを選択してワークフローを効率化し、部品を手動で取り除く必要をなくすことができます。