Documentation Index
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什麼是自動掃描？
自動掃描是 Lumafield 的主要掃描方法。只需放入您的零件，設定時間，然後讓系統自動優化關鍵掃描設置，以確保最高的重建質量，簡化您的日常檢查工作流程。自動掃描與手動掃描
Lumafield 建議對絕大多數應用程式使用自動掃描。大多數使用者會發現自動掃描始終能提供最佳結果，而手動掃描僅用於高度專業或非標準的偵測要求。注意： 對於不屬於自動掃描範圍的非標準用例，請聯絡support@lumafield.com獲取優化工作流程的指導。
可調設定
自動掃描簡化了配置，因此高品質成像不需要專門的 CT 專業知識。只需定位您的零件，指示材料成分，選擇掃描持續時間，然後讓自動調諧器決定其餘的掃描參數。位置和放大倍率
- 旋轉： 驗證 FOV 間隙以實現完整 360° 旋轉
- 放大（縮放）： 將零件移近來源以提高分辨率
- 平移（上/下）： 將感興趣區域置於框架內居中
注意： 不同的 Neptune 型號具有特定的放大倍率「最佳點」。有關詳細的分辨率基準，請參閱Neptune 定位指南。本指南還將概述螺旋掃描和水平偏移掃描的高級採集模組。
調整參數
- 單一材質： 對於具有單一、均勻密度的零件選擇此選項。此設定也適用於材料密度幾乎相同的組件，例如由多種相似塑膠製成的組件
- 多材料： 針對具有多種材料密度的組件進行了最佳化，此設定有助於軟體更好地解析高對比度介面，例如封裝在塑膠或複雜 PCBA 中的金屬組件
Scan Sweep
Scan Sweep 是一種流程最佳化工具。它會在分配的總掃描時間內執行一系列不同持續時間的連續掃描。執行 Scan Sweep 以比較不同掃描時間的品質。- 一次掃描： 標準單次擷取模式
- 三到五次掃描： 最適合在最短的時間內撥號以獲得所需的影像品質。掃描中的所有掃描都將填入同一項目中，以便於跨掃描時間進行比較
高階參數覆蓋
注意： 這些設定會顯著影響掃描物理特性。我們建議只有在您對 CT 採集有透徹的了解或已諮詢 Lumafield 支援團隊時才使用這些覆蓋：support@lumafield.com。
過濾器選擇
濾光片透過在較低能量的 X 射線到達物體之前去除它們來減輕光束硬化偽影。這確保了光束更加均勻，並且能夠更好地穿透緻密材料。- 何時使用： 對於多材料組件和緻密或金屬單一材料零件有幫助
- 權衡： 濾光片越厚，需要更長的曝光時間才能維持足夠的訊號，導致掃描時間更長
- 可用選項： 銅過濾器厚度為 0.5 毫米、1 毫米、1.5 毫米、2.5 毫米和 6 毫米
光斑尺寸（僅限 Neptune MFX）
光點尺寸決定了 X 射線束的原點，從而在幾何清晰度和功率（通量）之間建立了基本的權衡。自動掃描通常會優化光點尺寸，使其接近掃描的體素尺寸。- 小光點尺寸 (5 µm)： 提供最大解析度和清晰度；非常適合微特徵，但由於功率限制需要更長的掃描時間
- 大光斑尺寸 (40 µm)： 允許更高的功率和更大的整體曝光。適用於微觀解析度不太重要的較大、較密集的零件。也可用於提高多材料零件中低密度塑膠的可見度
- 可用選項： 5 µm、8 µm、20 µm 和 40 µm