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基准是测量所依据的理想参考：一个平面、一条轴或一个中面。在 ASME Y14.5 中，基准不是扫描表面。它是该表面被允许接触的对应体。Voyager 根据特征集中的一个或多个特征，或根据导入 CAD 上的面，构建该对应体。 基准位于尺寸标注树中特征集下的基准组。框架将这些基准排序——先第一，再第二，然后第三——成为轮廓度、位置度、垂直度和平行度进行测量所用的基准参考框架。
从检测到的特征定义基准

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基准类型

  • 平面 — 一个或多个平面特征。多个面可以属于同一个平面基准。按住面板所指的修饰键以添加另一个面。
  • 轴 — 一个圆柱。基准是该圆柱的轴线。
  • 中面 — 两个平面特征正中间的平面。
CAD 完成处理后，选取 CAD 面的方式与选取扫描面相同。请参阅名义 CAD 导入。

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平面基准如何贴合零件

新的平面基准使用相切拟合。基准平面停在表面的高点上。这是 ASME Y14.5 和 ISO 5459 所描述的接触模拟体，也是每个新平面基准的默认方式。 平面基准也可以是：
  • GG — 最小二乘，即表面的平均
  • GC — 最小区域，即包含该表面的最窄一对平行平面的中间
轴基准可以是最小二乘、最小区域或配合尺寸（包围销的最小圆柱，或孔内的最大圆柱）。中面使用最小二乘或配合尺寸。相切拟合仅用于平面。

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定义基准

1

选择基准

在尺寸标注模式中从工具栏选择基准，或右键单击特征并选择与其类型对应的基准操作：创建平面基准、创建轴基准或创建中心面基准。
2

选择构建位置

选择特征集，或选择已完成处理的 CAD 模型。
3

选择类型和特征

选取平面、轴或中面，然后单击特征。符合条件的特征在悬停时会高亮显示。
4

标记并提交

分配诸如 A、B 或 C 的标签。标签以大写存储。提交以将基准添加到特征集。
在导入的 STEP 文件上定义基准

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框架

框架是有序的基准参考框架。为定位零件的基准排序：第一，然后第二，然后第三。第一基准确定零件的方向。第二基准止住绕该方向的旋转，或一次平移。第三基准止住前两个留下的最后一次平移。您不必填满每个顺位。位置度和轮廓度需要第一基准，并将另外两个视为可选。垂直度和平行度需要第一基准，并且仅当第二基准用来约束区域的旋转时才允许使用它。 从工具栏选择框架。选择框架所属的特征集或 CAD 模型，然后为每个顺位选取一个基准，或单击其标注。清除顺位会清空一个顺位。如果已存在具有相同基准的框架，面板会指出它，而不是创建重复项。 构建框架一次即可。扫描对齐到 CAD 后，复制到 CAD或复制到扫描会创建对应项，链接将两者配对。轮廓度和位置度随后在该配对中测量。

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引线

每个基准绘制一条引线和一面带标签的旗标。使用标注控件移动引线。基准的值不会改变。一旦多个基准和 GD&T 检查共享同一视图，包括在报告模式中，整洁的位置就很重要。